Wyniki
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Molecular Organization in Pentacene Thin Film on SiO2 Surface Using Spectroscopic Ellipsometry, Infrared Spectroscopy, and Atomic Force Microscopy
Ewelina Z. Frątczak, Paweł Uznański
Bulletin de la Société des Science et des Lettres de Łódź. Serie: Recherches sur les Déformations , 66 /1 (2016) s. 103-122